產(chǎn)品中心
PRODUCTS CENTER
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心半導體專用檢測儀器設備RESmap 低電阻率測試儀
產(chǎn)品分類
電阻率測試儀（RESmap ）在對低電阻率晶錠和晶圓進行非接觸式測量方式上擁有非常重要的重復性 Si | Ge | 化合物半導體 | 寬帶隙 | 材料 | 金屬 | 導電 | 氧化物和氮化物[ Ge | Si | SiC | InP | GaAs | GaN | InAs以及更多]
更新時間：2025-11-04
產(chǎn)品型號：RESmap-1
瀏覽量：4304
掃一掃，關注公眾號
服務電話：
021-34685181
上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號樓602室
wei.zhu@shuyunsh.com
相關文章